В книге изложены основные принципы и методы измерения параметров полупроводниковых приборов; дана оценка погрешностей измерения параметров; описаны методы измерения статических параметров, параметров двухполюсника и четырехполюсника с помощью малого сигнала, импульсных параметров, шумовых и тепловых параметров, параметров высокочастотных полупроводниковых приборов и др.; приведены особенности конструирования измерительного и испытательного оборудования.